VOMMA光场屏幕缺陷三维检测方案，可通过单次拍照精准定位缺陷的层级信息和三维方位，从根本上防范屏幕缺陷带来的强制报废问题，帮助生产企业提高产品的质量和竞争力。

场景方案：

1. 可检屏幕膜材类型: 偏光片、LCD、OLED、Mini LED

2. 缺陷类型: 划痕，气泡，毛丝，灰尘，坏点等

3. 可进行芯片金线检测、偏振薄膜分层检测

4. 无需投光、单次拍照、多维显示

5. Z轴重复精度达0.5μm

光场三维建模方案可以利用光场技术快速、准确地重建三维模型，为设计、制造、科研等领域提供重要的参考和支持。

场景方案：科研高校实验室

1. 面向高校光学工程、集成电路、智能制造、生物细胞学、电子工程中三维数据采集微、薄、透光学检测;

2. 可用于立体摄影、立体显微术、立体影像制作;

3. 可进行芯片金线检测、偏振薄膜分层检测等

4. 无需投光、单次拍照、多维显示;

5. Z轴重复精度达0.5μm。